Thermal EMMI ELITE为简易、节省空间之最新电性故障定位设备，可直接并快速地透过IC或PCB的正面或背面来找出缺陷所在位置，更可在IC未开盖状态下定位出失效点为IC本身或封装问题，是非破坏性分析的绝佳利器！

利用高灵敏度之InSb(锑化铟) detector侦测待测物在通电状态下，缺陷位置所产生之热辐射的分布，藉以定位出失效所在位置，甚至可估算出热源在纵深的距离，非常适合堆栈芯片或先进封装产品分析。

集成电路、分立元器件、晶圆量测、TFT LCD面板产业、PCB/PCBA产业。

1.具市场上最高灵敏度的热源侦测系统

2.实时锁定测量，提高信噪比

3.差异化温度分辨率：数秒后 <1 mK；数小时后 <10 uK

4.堆栈芯片、封装打线、PCB分析