失效分析
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超声波扫描（SAM）检测
项目描述
超声波扫描显微镜，英文名是: Scanning Acoustic Microscope，简称 SAM，由于它的主要工作模式是C模式，因此也简称: C-SAM 或 SAT 英文名 Scanning Acoustic Tomography。
超声波显微镜分析是无损的检测方式，其通过图像及声波对比度判别样品内部分层、确定缺陷形状和尺寸、确定缺陷方位等。同时可以检测集成电路表面丝印打字重影、表面打磨、重新喷涂的真伪检测。
适用于
失效分析和可靠性分析。无损检测电子元器件、LED、金属基板的分层、裂纹等缺陷（裂纹、分层、空洞等）；通过图像对比度判别材料内部声阻抗差异、确定缺陷形状和尺寸、确定缺陷方位。
我们的优势
实验室检测探头都有其固定频率及聚焦，其适用于不同封装芯片，拥有目前全台实验室最完整的探头组合，从低频15 MHz至高频100 MHz及更高阶的230 MHz超高频探头，可满足各种封装型式的芯片检测
超声波检测图片
超声波扫描设备
