失效分析
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半导体组件参数分析
项目描述
利用SMU(Source measurement unit)供应电压或电流，验证与量测半导体组件特性(Diode I-V Curve、MOSFET特性曲线等)。
应用范围
DC组件及导体组件特性量测
电性失效分析量测(EFA, Electrical Failure Analysis)
辅助后续电性测试(Force V Measure I / Force I Measure V)
CMOS 晶体管、双极晶体管 Ic-Vc、二极管、Gummel 曲线图、击穿和电容等
分立器件、内存 Vth、电容、耐久性测试、功率器件等
检测设备图片
检测优势
1.测试时效快，搭配点针台可进行各种封装型式的量测。
2.依据需求选择不同设备。