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服务项目 / 失效分析 / 物性分析 / 扫描式电子显微镜(SEM)
扫描式电子显微镜(SEM)
项目描述
扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,SEM)是一种电子显微镜,利用聚焦电子束扫描样品的表面来产生样品表面的图像。
其特点包括制样简单、放大倍数可调范围宽、图像的分辨率高、景深大、保真度高、有真实的三维效应等。扫描电镜(SEM)主要是通过二次电子,背散射电子和特征X射线(XRD)信号来分析试样表面特性。
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用途
扫描电子显微镜主要⽤于对材料形貌/尺寸进行观察并分析,对带有镀层的材料膜层分析、对材料微区进行EDS元素分析、细胞观察,同时在对材料进⾏失效分析时进⾏元素测定、⾦相分析等。
扫描电镜主要⽤于观察:观察纳米材料、材料断口的分析、直接观察原始表⾯、观察厚试样、观察各个区域的细节。
SEM应用
检测对象:各种固体样品
放大倍率:几十-几十万倍
分辨率:纳米级
提供的衬度信息:形貌衬度、成分衬度、晶体取向衬度形貌观察:SEM可以观察几乎任何固体样品的形貌,包括各种有机、无机材料。根据所收集信号的强弱形成明暗衬度差异的图像直观,富有立体感,和肉眼观察到事物的效果几乎无差别。
尺寸测量:SEM软件可以测量图像中的尺寸、角度、弧度等数据。
成分分布信息:背散射电子像可以反映样品不同成分的分布情况。
晶粒观察:利用电子通道效应获取样品的晶体取向衬度,对于非常平整的表面,SEM可以观察到晶体物质的晶体颗粒。
检测设备图片
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