CT扫描即计算机断层扫描成像技术，通过计算机和X射线检测技术相结合，能在不破坏零件的前提下获取物体内部结构和表面特征信息，重建物体内部的三维立体结构，能够定量地提供物体内部的物理、力学等特性，分析结构、组成、材质和缺损等状况，是对部件进行尺寸测量和高效分析的无损检测技术，是最佳的无损检测手段之一

元器件失效分析是保证元器件质量与寿命的重要手段。使用CT测试技术对元器件进行失效分析，判断失效性质，找出失效原因，为生产线改进工艺、优化设计、正确使用芯片提供技术依据。

集成芯片、晶体管、电阻、电容、电感、变压器，传感器、机电元件、连接器、PCB、PCBA、电源模块、信号模块、评估开发板、有机组件等

缺陷分析、尺寸测量、CAD数模比对，